23 de jan de 2017

Minicurso enfoca efeitos da radiação em circuitos eletrônicos nos ambientes espaciais


(UFC) O Laboratório de Engenharia de Sistema de Computação (LESC), vinculado ao Departamento de Engenharia de Teleinformática (DETI) da Universidade Federal do Ceará, promove o minicurso Efeitos da Radiação em Semicondutores e Processo de Qualificação para Aplicações Espaciais. O instrutor será o Prof. Fabian Vargas, da Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUC-RS), Ph.D. em Microeletrônica no Instituto Nacional Politécnico de Grenoble (França).

As atividades ocorrerão no período de 24 a 26 de janeiro, das 10 às 12h e das 14 às 17h, no auditório do LESC (bloco 723 do Campus do Pici Prof. Prisco Bezerra). As inscrições são gratuitas e podem ser feitas no primeiro dia no local do evento. São ofertadas 90 vagas.

O organizador do minicurso, Prof. Jarbas Silveira, do LESC e do DETI, esclarece que a atividade é voltada para o aprendizado sobre diferentes efeitos da radiação em circuitos eletrônicos em ambientes espaciais (circuitos de computadores de bordo usados em aviões, naves, satélites etc). Também será enfocada a tolerância a falhas e diferentes técnicas de códigos e corretores de erros.

Podem participar alunos de graduação e pós-graduação e professores dos cursos de Computação, Teleinformática, bem como profissionais de áreas afins que possuam conhecimentos básicos sobre circuitos integrados, sistemas digitais, códigos de informação e confiabilidade. Os organizadores recomendam que os participantes levem o próprio notebook para o desenvolvimento de simulações. É desejável que tenham a ferramenta LTSpice IV instalada.

CONTEÚDO – O programa vai permitir que o aluno compreenda as metodologias de projetos de sistemas tolerantes a falhas, redundância de software e hardware com base em informações e tempo, bem como os mecanismos físicos que causam erros ou afetam a confiabilidade dos circuitos em ambientes com radiação ionizante. Inclui os seguintes tópicos:

Sistemas tolerantes a falhas – conceitos básicos: dose total ionizante (TID), efeitos de eventos únicos (SEU/SET), interferência eletromagnética, ambiente de teste e padronizações;

Detecção e códigos corretores de erros – Paridade, Berger, Aritmética, Checksum, Código de Redundância Cíclica (CRC) e Hamming, exemplo computacional para confiabilidade de memória e Mean Time to Failure.

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